2025年11月13日，2025中关村材料试验技术联盟（CSTM）基础与共性技术标准化领域委员会年会在湖南衡阳召开。王子政、姚程源代表课题组参加《绝缘体上硅（SOI）的硅基与薄膜厚度同时测量 反射光谱法》标准立项论证答辩会，准备充分，表现出色。该标准顺利获得立项。这是课题组牵头申请的第一项团体标准。
2025年11月15日 08:18
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