2025年11月21日，沈万福副教授代表课题组向国际电工委员会电工产品与系统纳米技术委员会（IEC/TC 113）递交一项名为《KEY CONTROL CHRACTERISTICS - TWO-DIMENSIONAL MATERIALS - LAYER MEASUREMENT: PSEUDO-BREWSTER ANGLE METHOD》的标准。
IEC/TC 113负责纳米电工产品和系统领域标准化工作，涉及发光纳米材料、纳米储能、石墨烯及碳纳米管、晶圆级集成等领域，是纳米技术标准领域的重要技术委员会。
